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磁性材料光学视觉检测设备检测磁瓦外观方案
发表时间:2020-02-26 13:21
一、检测内容及要求
 
检测内容:
       最大尺寸长21.35mm*宽1.57mm的产品的尺寸检测 

序号 检测位置 检测方式 是否可检
1 麻点 正光检测 可检
2 缺损 正光检测 可检
3 裂纹 正光检测 可检

注明:磁性材料光学视觉检测设备检测磁瓦外观,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于180件(取决于产品送料速度)。

二、设备组成及主要机构
 
设备型号:SP-T300标定制机          外形尺寸:900*800*1850mm
         组成部件清单:
序号 部件名称 规格型号 数量
1 视觉检测软件 SIPOTEK 1套
2 工业电脑 SIPOTEK定制 1套
3 显示器 PHILIPS  19”液晶显示器 1台
4 工业相机 Barsler工业相机 6套
5 相机调节模组 SIPOTEK定制 6套
6 工业镜头 FA高清光学工业镜头 6套
7 光源 定制光学自适应光源 6套
8 检测平台 专业光学玻璃载台 1套
9 伺服电机 松下·PANASONIC 1套
10 控制系统 SIPOTEK定制 1套
11 PLC运动协作 松下·PANASONIC 1套

设备外观3D立体图
磁性材料光学视觉检测设备
样件测试图片:
底部正光检测原图:

磁性材料光学视觉检测设备

底部正光检测良品分析图:OK

磁性材料光学视觉检测设备

底部正光检测分析图: NG         不良原因:缺损

底部正光检测分析图
底部正光检测分析图: NG         不良原因:裂纹
底部正光检测分析图
底部正光检测分析图: NG         不良原因:缺损

底部正光检测分析图
顶部正光检测良品分析图:OK
 

顶部正光检测良品分析图

顶部正光检测分析图: NG         不良原因:麻点

磁性材料光学视觉检测设备

 
顶部正光检测分析图: NG         不良原因:麻点

磁性材料光学视觉检测设备

顶部正光检测分析图: NG         不良原因:麻点

顶部正光检测分析图

 
顶部正光检测分析图: NG         不良原因:缺损

顶部正光检测分析图

侧面正光检测良品分析图:OK

侧面正光检测良品分析图
 
侧面正光检测分析图:NG       不良原因:缺损

侧面正光检测分析图

侧面正光检测分析图:NG       不良原因:裂纹

侧面正光检测分析图

 
侧面正光检测良品分析图:OK

侧面正光检测良品分析图

侧面正光检测分析图:NG       不良原因:裂纹

侧面正光检测分析图

侧面正光检测分析图:NG       不良原因:缺损

磁性材料光学视觉检测设备

侧面正光检测良品分析图:OK

磁性材料光学视觉检测设备

 
侧面正光检测分析图:NG       不良原因:裂纹

磁性材料光学视觉检测设备
 
侧面正光检测良品分析图:OK

磁性材料光学视觉检测设备
 
侧面正光检测分析图:NG       不良原因:缺损

磁性材料光学视觉检测设备
 
四、磁性材料光学视觉检测设备安装要求:
设备放置的检测空间:  立体式设备检测机台配置检测软件和所需相机光源,需要保证有足够的空间以安装设备。
 
环境温度: 0-50摄氏度;
空气湿度: 90% RH以下;
电子干扰: 为设备提供电子干扰较小的地方。
电源:        交流220V,50Hz,  耗电<1KVA。
 
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检测视频

DETECTION ViDEO